Aparatura do pomiaru odkształceń i innych wielkości fizycznych przy użyciu tensometrów lub innych przetworników rezystancyjnych

Aparatura do pomiaru odkształceń i innych wielkości fizycznych przy użyciu tensometrów lub innych przetworników rezystancyjnych

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Czterokanałowe mierniki odkształceń typu SGM-1Cxx są ręcznymi lub stacjonarnymi (wersja typu tablicowego, oznaczona MPR...) urządzeniami przeznaczonym do pomiaru odkształceń konstrukcji przy pomocy tensometrów naprężnych elektrorezystancyjnych oraz statycznych lub wolnozmiennych wielkości fizycznych przy zastosowaniu przetworników rezystancyjnych, mostkowych. Opcjonalnie zawierają też moduł licznika, którego wejście może być dołączane do przetworników o wyjściu impulsowym lub częstotliwościowym. Wyniki pomiarów prezentowane są przy pomocy wyświetlacza alfanumerycznego, mogą też być zapisywane w wewnętrznej pamięci lub transmitowane na zewnątrz przy pomocy łącza szeregowego. Łącze to służy również do odczytu zebranych w pamięci danych. Programowanie miernika obejmuje wprowadzanie parametrów zespołu podłączanych tensometrów lub przetworników, ustawianie bieżącego czasu, określenie kryterium rejestracji danych pomiarowych. Dodatkowym podzespołem miernika jest programowany sterownik sygnału analogowego. Sygnał ten może być wejściową wielkością sterującą zewnętrznego urządzenia wykonawczego np. pompy hydraulicznej prasy. W takim zastosowaniu możliwe jest określanie wymaganej w eksperymencie ścieżki obciążeń prasy. Układy elektroniczne mierników umieszczone są w obudowie typu hand-held i zasilane z wewnętrznego akumulatora zasadowego lub zasilacza sieciowego.

Dane techniczne:

  • liczba kanałów pomiarowych: max. 4 + 1 licznika
  • rezystancje tensometrów (rezystorów pomiarowych przetworników): 100 - 1000 Ohm
  • liczba tensometrów czynnych w układzie pomiarowym: 1, 2 lub 4
  • zakres stałych tensometrów 'k': 1.00 - 2.99
  • zakres pomiarowy: (dla stałej 'k'= 2.00)
    • SGM-1C16: +/- 40 promili
    • SGM-1C81: +/- 4 promile
  • rozdzielczość pomiaru odkształcenia:
    • SGM-1C16: 0.01 promila
    • SGM-1C81: 0.001 promila
  • stabilność temperaturowa i czasowa: +/- 1 LSD
  • częstotliwość pomiaru odkształceń: 6 /s
  • okres zliczania licznika: 1 s
  • pojemność pamięci (zapis wszystkich wyników pomiarowych):
    • dla 1 kanału czynnego: 571 zapisów
    • dla 5 kanałów czynnych (łącznie z licznikowym): 1333 zapisy
  • napięcie na wyjściu sterownika sygnału analogowego: 0 - 2.55 V
  • liczba programowanych napięć progowych: 20
  • zasilanie: 2*Ni-Cd 9 V, 120mAh lub zasilacz sieciowy
  • wymiary gabarytowe: 200*100*40 mm
  • masa: ok. 0.5 kg

Zmierzone i zarejestrowane przy pomocy przyrządu SGM-1C81 naprężenie s, odkształcenie osiowe e1, odkształcenie obwodowe e3 i aktywność emisji akustycznej (liczba impulsów na sekundę) n próbki skalnej w jednoosiowym stanie naprężenia.

 

INFORMACJA: dr hab. inż. Adam Kanciruk, prof. IMG PAN